Contamination and ESD Control in High Technology Manufacturing

Roger W. Welker, R. Nagarajan, Carl E. Newberg

Collana: Wiley - IEEE
Anno: 2006
Rilegatura: Hardback
Pagine: 514 p.
Testo in English
Dimensioni: 261 x 186 mm
Peso: 1070 gr.
  • EAN: 9780471414520

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