Statistical Regression with Measurement Error: Kendall's Library of Statistics 6

Chi-Lun Cheng, John W.Van Ness

Anno: 1999
Rilegatura: Hardback
Pagine: 282 p.
Testo in English
Dimensioni: 240 x 167 mm
Peso: 580 gr.
  • EAN: 9780470711064

€ 102,59

€ 105,76

Risparmi € 3,17 (3%)

Venduto e spedito da IBS

103 punti Premium

Disponibile in 10 gg

Quantità: