Chiudi

Aggiungi l'articolo in

Chiudi
Aggiunto

L’articolo è stato aggiunto alla lista dei desideri

Chiudi

Crea nuova lista

Advances in X-Ray Analysis: Proceedings of the Tenth Annual Conference on Application of X-Ray Analysis Held August 7–9, 1961 - William M. Mueller - cover
Advances in X-Ray Analysis: Proceedings of the Tenth Annual Conference on Application of X-Ray Analysis Held August 7–9, 1961 - William M. Mueller - cover
Dati e Statistiche
Wishlist Salvato in 0 liste dei desideri
Advances in X-Ray Analysis: Proceedings of the Tenth Annual Conference on Application of X-Ray Analysis Held August 7–9, 1961
Disponibilità in 2 settimane
63,10 €
63,10 €
Disponibilità in 2 settimane
Chiudi

Altre offerte vendute e spedite dai nostri venditori

Altri venditori
Prezzo e spese di spedizione
ibs
Spedizione Gratis
63,10 €
Vai alla scheda completa
Altri venditori
Prezzo e spese di spedizione
ibs
Spedizione Gratis
63,10 €
Vai alla scheda completa
Altri venditori
Prezzo e spese di spedizione
Chiudi
ibs
Chiudi

Tutti i formati ed edizioni

Chiudi
Advances in X-Ray Analysis: Proceedings of the Tenth Annual Conference on Application of X-Ray Analysis Held August 7–9, 1961 - William M. Mueller - cover
Chiudi

Promo attive (0)

Descrizione


The text of this volume had its origin in the Tenth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis sponsored by the University of Denver and held August 7,8,9, 1961, at the Albany Hotel in Denver, Colorado. Approximately 300 participants derived benefit from the presentation of fifty-six papers on new scientific and technological developments in X-ray methods and the discussions that followed. Forty-eight of these papers plus one presented at the Ninth Con­ ference and cleared for publication too late to be included in Volume 4 are given here. The growth of the annual conferences and the breadth and intensity of the presentations are confirmations of the observation that the field of X-ray re­ search is indeed in a state of rapid and healthy development. Financial assistance provided by the United States Office of Naval Research permitted the participation oftwo distinguished scientists from Europe, Professor Andre Guinier of the University of Paris and Professor Hans Nowotny of the University of Vienna.
Leggi di più Leggi di meno

Dettagli

Advances in X-Ray Analysis
2012
Paperback / softback
564 p.
Testo in English
254 x 178 mm
9781468476088
Chiudi
Aggiunto

L'articolo è stato aggiunto al carrello

Informazioni e Contatti sulla Sicurezza dei Prodotti

Le schede prodotto sono aggiornate in conformità al Regolamento UE 988/2023. Laddove ci fossero taluni dati non disponibili per ragioni indipendenti da IBS, vi informiamo che stiamo compiendo ogni ragionevole sforzo per inserirli. Vi invitiamo a controllare periodicamente il sito www.ibs.it per eventuali novità e aggiornamenti.
Per le vendite di prodotti da terze parti, ciascun venditore si assume la piena e diretta responsabilità per la commercializzazione del prodotto e per la sua conformità al Regolamento UE 988/2023, nonché alle normative nazionali ed europee vigenti.

Per informazioni sulla sicurezza dei prodotti, contattare productsafetyibs@feltrinelli.it

Chiudi

Aggiungi l'articolo in

Chiudi
Aggiunto

L’articolo è stato aggiunto alla lista dei desideri

Chiudi

Crea nuova lista

Chiudi

Chiudi

Siamo spiacenti si è verificato un errore imprevisto, la preghiamo di riprovare.

Chiudi

Verrai avvisato via email sulle novità di Nome Autore