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Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - cover

LIBRO INGLESE

Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability

Mohammad Tehranipoor (Curatore)

Springer-Verlag New York Inc., 2010

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Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes. Each of these technologies offers various advantages and disadvantages. Some suffer from high power, some work in very low temperatures and some others need indeterministic bottom-up assembly. These emerging technologies are not considered as a direct replacement for CMOS technology and may require a completely new architecture to achieve their functionality. Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability brings all of these issues together in one place for readers and researchers who are interested in this rapidly changing field.

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Dettagli

Curatore:

Mohammad Tehranipoor

Editore:

Springer-Verlag New York Inc.

Collana:

Frontiers in Electronic Testing

Anno:

2010

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

408 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9781441945136

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