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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy

EBOOK IN LINGUA STRANIERA

Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy

Springer, 2016

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Descrizione

Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing.

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Dettagli

Curatore:

Peter Binev, Wolfgang Dahmen, Thomas Vogt

Anno edizione:

2016

Editore:

Springer

Formato:

EPUB2 con Adobe DRM

Testo in en

Compatibilità:

Tutti i dispositivi (eccetto Kindle) Scopri di più

Layout:

Reflowable

EAN:

9781461421917

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