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Nanotribology: Critical Assessment and Research Needs - cover

LIBRO INGLESE

Nanotribology: Critical Assessment and Research Needs

Stephen M. Hsu (Curatore)

Z. Charles Ying (Curatore)

Springer-Verlag New York Inc., 2002

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Descrizione

Nanotribology: Critical Assessment and Research Needs is an excellent reference for both academic and industrial researchers working in the fields of nanotechnology, tribology, mechanical engineering, materials science and engineering, MEMS, NEMS, magnetic recording, and biomedical devices. It will also be of interest to those pursuing scanning probe microscopy, nanoimaging, mesomanufacturing, sensors, actuators, aerospace, defense (controllers, microsystems), and military systems. Nanotribology: Critical Assessment and Research Needs provides a critical assessment of the current state of the art of nanotribology within the context of MEMS, mesomanufacturing, nanotechnology and microsystems. It contains chapters written by the leading experts in these fields. It identifies gaps in current knowledge and barriers to applications, and recommends research areas that need to be addressed to enable the rapid development of technologies.

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Dettagli

Curatore:

Stephen M. Hsu, Z. Charles Ying

Editore:

Springer-Verlag New York Inc.

Anno:

2002

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

442 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9781402072987

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