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Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II: Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979 - cover

LIBRO INGLESE

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II: Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979

A. Benninghoven (Curatore)

C.A. Jr. Evans (Curatore)

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, 2011

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Descrizione

This volume contains the proceedings of the Tenth International Converence on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS X). It covers a diverse field of research ranging from environmental problems to depth profiling and semiconductors. In doing so, it provides an excellent overview of current research and technology by acknowledged experts in their specialised fields.

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Dettagli

Curatore:

A. Benninghoven, C.A. Jr. Evans

Editore:

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Collana:

Springer Series in Chemical Physics

Anno:

2011

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

300 p.

Testo in English

Dimensioni:

229 x 152 mm

EAN:

9783642618734

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