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Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 1: Fundamental Principles and Solar Cell Characterization - cover

LIBRO INGLESE

Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 1: Fundamental Principles and Solar Cell Characterization

Hiroyuki Fujiwara (Curatore)

Robert W. Collins (Curatore)

Springer International Publishing AG, 2019

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Descrizione

This book provides a basic understanding of spectroscopic ellipsometry, with a focus on characterization methods of a broad range of solar cell materials/devices, from traditional solar cell materials (Si, CuInGaSe2, and CdTe) to more advanced emerging materials (Cu2ZnSnSe4, organics, and hybrid perovskites), fulfilling a critical need in the photovoltaic community. The book describes optical constants of a variety of semiconductor light absorbers, transparent conductive oxides and metals that are vital for the interpretation of solar cell characteristics and device simulations. It is divided into four parts: fundamental principles of ellipsometry; characterization of solar cell materials/structures; ellipsometry applications including optical simulations of solar cell devices and online monitoring of film processing; and the optical constants of solar cell component layers.

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Dettagli

Curatore:

Hiroyuki Fujiwara, Robert W. Collins

Editore:

Springer International Publishing AG

Collana:

Springer Series in Optical Sciences

Anno:

2019

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

594 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9783319753751

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