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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS - D. Briggs - cover

LIBRO INGLESE

Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS

Name: Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS
Price: 85.60 EUR
Availability: InStock
Author: D. Briggs
ISBN: 052101753X

di D. Briggs (Autore)

Cambridge University Press, 2005

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Descrizione

This book provides an in-depth treatment of the instrumentation, physical bases and applications of X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and static secondary ion mass spectroscopy (SSIMS) with a specific focus on the subject of polymeric materials. XPS and SSIMS are widely accepted as the two most powerful techniques for polymer surface chemical analysis, particularly in the context of industrial research and problem solving. In this book, the techniques of XPS and SSIMS are described and in each case the author explains what type of information may be obtained. The book also includes details of case studies emphasising the complementary and joint application of XPS and SSIMS in the investigation of polymer surface structure and its relationship to the properties of the material. This book will be of value to academic and industrial researchers interested in polymer surfaces and surface analysis.

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Dettagli

Autore:

D. Briggs

Editore:

Cambridge University Press

Collana:

Cambridge Solid State Science Series

Anno:

2005

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

216 p.

Testo in English

Dimensioni:

245 x 170 mm

Peso:

350 gr.

EAN:

9780521017534

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