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Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications - Greg Haugstad - cover

LIBRO INGLESE

Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications

Name: Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Price: 171.86 EUR
Availability: OutOfStock
Author: Greg Haugstad
ISBN: 0470638826

di Greg Haugstad (Autore)

John Wiley & Sons Inc, 2012

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Descrizione

This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions. "Supplementary material for this book can be found by entering ISBN 9780470638828 on booksupport.wiley.com"

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Dettagli

Autore:

Greg Haugstad

Editore:

John Wiley & Sons Inc

Anno:

2012

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

528 p.

Testo in English

Dimensioni:

244 x 163 mm

Peso:

794 gr.

EAN:

9780470638828

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