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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs - Sleiman Bou-Sleiman,Mohammed Ismail - cover

LIBRO INGLESE

Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs

Name: Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Price: 88.10 EUR
Availability: InStock
Author: Sleiman Bou-Sleiman
ISBN: 1441995471

di Sleiman Bou-Sleiman (Autore)

Mohammed Ismail (Autore)

Springer-Verlag New York Inc., 2011

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Descrizione

This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.

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Dettagli

Autore:

Sleiman Bou-Sleiman, Mohammed Ismail

Editore:

Springer-Verlag New York Inc.

Collana:

SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering

Anno:

2011

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

89 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9781441995476

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