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Capacitance Spectroscopy of Semiconductors - cover

LIBRO INGLESE

Capacitance Spectroscopy of Semiconductors

Jian V. Li (Curatore)

Giorgio Ferrari (Curatore)

Pan Stanford Publishing Pte Ltd, 2018

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Descrizione

Capacitance spectroscopy refers to techniques for characterizing the electrical properties of semiconductor materials, junctions, and interfaces, all from the dependence of device capacitance on frequency, time, temperature, and electric potential. This book includes 15 chapters written by world-recognized, leading experts in the field, academia, national institutions, and industry, divided into four sections: Physics, Instrumentation, Applications, and Emerging Techniques. The first section establishes the fundamental framework relating capacitance and its allied concepts of conductance, admittance, and impedance to the electrical and optical properties of semiconductors. The second section reviews the electronic principles of capacitance measurements used by commercial products, as well as custom apparatus. The third section details the implementation in various scientific fields and industries, such as photovoltaics and electronic and optoelectronic devices. The last section presents the latest advances in capacitance-based electrical characterization aimed at reaching nanometer-scale resolution.

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Dettagli

Curatore:

Jian V. Li, Giorgio Ferrari

Editore:

Pan Stanford Publishing Pte Ltd

Anno:

2018

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

460 p.

Testo in English

Dimensioni:

229 x 152 mm

Peso:

453 gr.

EAN:

9789814774543

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