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CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective - Manjul Bhushan,Mark B. Ketchen - cover

LIBRO INGLESE

CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective

Name: CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective
Price: 218.40 EUR
Availability: InStock
Author: Manjul Bhushan
ISBN: 1493913484

di Manjul Bhushan (Autore)

Mark B. Ketchen (Autore)

Springer-Verlag New York Inc., 2014

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CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test and data analysis methodology for CMOS products, covering circuit sensitivities to MOSFET characteristics, impact of silicon technology process variability, applications of embedded test structures and sensors, product yield, and reliability over the lifetime of the product. This book also covers statistical data analysis and visualization techniques, test equipment and CMOS product specifications, and examines product behavior over its full voltage, temperature and frequency range.

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Dettagli

Autore:

Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen

Editore:

Springer-Verlag New York Inc.

Anno:

2014

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

424 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9781493913480

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