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Defect Sizing Using Non-destructive Ultrasonic Testing: Applying Bandwidth-Dependent DAC and DGS Curves - Wolf Kleinert - cover

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Defect Sizing Using Non-destructive Ultrasonic Testing: Applying Bandwidth-Dependent DAC and DGS Curves

Name: Defect Sizing Using Non-destructive Ultrasonic Testing: Applying Bandwidth-Dependent DAC and DGS Curves
Price: 149.80 EUR
Availability: InStock
Author: Wolf Kleinert
ISBN: 331981379X

di Wolf Kleinert (Autore)

Springer International Publishing AG, 2018

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Descrizione

This book presents a precise approach for defect sizing using ultrasonics. It describes an alternative to the current European and American standards by neglecting their limitations. The approach presented here is not only valid for conventional angle beam probes, but also for phased array angle beam probes. It introduces an improved method which provides a significant productivity gain and calculates curves with high accuracy. Its content is of interest to all those working with distance gain size (DGS) methods or are using distance amplitude correction (DAC) curves.

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Dettagli

Autore:

Wolf Kleinert

Editore:

Springer International Publishing AG

Anno:

2018

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

118 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9783319813790

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