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Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective - Eugene R. Hnatek - cover

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Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective

Name: Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Price: 132.80 EUR
Availability: InStock
Author: Eugene R. Hnatek
ISBN: 0442006438

di Eugene R. Hnatek (Autore)

Van Nostrand Reinhold Inc.,U.S., 1993

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Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a

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Dettagli

Autore:

Eugene R. Hnatek

Editore:

Van Nostrand Reinhold Inc.,U.S.

Anno:

1993

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

180 p.

Testo in English

Dimensioni:

234 x 156 mm

EAN:

9780442006433

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