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Digital Systems Testing and Testable Design - Melvin A. Breuer,Arthur D. Friedman,Miron Abramovici - cover

LIBRO INGLESE

Digital Systems Testing and Testable Design

Name: Digital Systems Testing and Testable Design
Price: 223.05 EUR
Availability: OutOfStock
Author: Melvin A. Breuer
ISBN: 0780310624

di Melvin A. Breuer (Autore)

Arthur D. Friedman (Autore)

Miron Abramovici (Autore)

John Wiley & Sons Inc, 1994

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Descrizione

This updated printing of the leading text and reference in digital systems testing and testable design provides comprehensive, state-of-the-art coverage of the field. Included are extensive discussions of test generation, fault modeling for classic and new technologies, simulation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis. Complete with numerous problems, this book is a must-have for test engineers, ASIC and system designers, and CAD developers, and advanced engineering students will find this book an invaluable tool to keep current with recent changes in the field.

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Dettagli

Autore:

Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman, Miron Abramovici

Editore:

John Wiley & Sons Inc

Anno:

1994

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

672 p.

Testo in English

Dimensioni:

258 x 186 mm

Peso:

1361 gr.

EAN:

9780780310629

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