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Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices - cover

LIBRO INGLESE

Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices

Name: Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Price: 127.30 EUR
Availability: InStock
ISBN: 3319089935

Tibor Grasser (Curatore)

Springer International Publishing AG, 2014

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Descrizione

This book provides readers with a variety of tools to address the challenges posed by hot carrier degradation, one of today’s most complicated reliability issues in semiconductor devices. Coverage includes an explanation of carrier transport within devices and book-keeping of how they acquire energy (“become hot”), interaction of an ensemble of colder and hotter carriers with defect precursors, which eventually leads to the creation of a defect, and a description of how these defects interact with the device, degrading its performance.

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Dettagli

Curatore:

Tibor Grasser

Editore:

Springer International Publishing AG

Anno:

2014

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

517 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9783319089935

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