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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Mathias Schubert - cover

LIBRO INGLESE

Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons

Name: Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons
Price: 287.50 EUR
Availability: InStock
Author: Mathias Schubert
ISBN: 3642062288

di Mathias Schubert (Autore)

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, 2010

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Descrizione

The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy. This book offers basic insights into the concepts of phonons, plasmons and polaritons, and the infrared dielectric function of semiconductors in layered structures. It describes how strain, composition, and the state of the atomic order within complex layer structures of multinary alloys can be determined from an infrared ellipsometry examination. Special emphasis is given to free-charge-carrier properties, and magneto-optical effects. A broad range of experimental examples are described, including multinary alloys of zincblende and wurtzite structure semiconductor materials, and future applications such as organic layer structures and highly correlated electron systems are proposed.

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Dettagli

Autore:

Mathias Schubert

Editore:

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Collana:

Springer Tracts in Modern Physics

Anno:

2010

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

196 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9783642062285

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