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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces - cover

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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces

Name: Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Price: 204.50 EUR
Availability: InStock
ISBN: 3642225659

Sascha Sadewasser (Curatore)

Thilo Glatzel (Curatore)

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, 2011

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Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction into the method and describes various experimental techniques. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials. The current state of surface potential at the atomic scale is also considered. This book presents an excellent introduction for the newcomer to this field, as much as a valuable resource for the expert.

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Dettagli

Curatore:

Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel

Editore:

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Collana:

Springer Series in Surface Sciences

Anno:

2011

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

334 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9783642225659

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