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Learning from VLSI Design Experience - Weng Fook Lee - cover

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Learning from VLSI Design Experience

Name: Learning from VLSI Design Experience
Price: 168.70 EUR
Availability: InStock
Author: Weng Fook Lee
ISBN: 303003237X

di Weng Fook Lee (Autore)

Springer Nature Switzerland AG, 2019

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Descrizione

This book shares with readers practical design knowledge gained from the author’s 24 years of IC design experience. The author addresses issues and challenges faced commonly by IC designers, along with solutions and workarounds. Guidelines are described for tackling issues such as clock domain crossing, using lockup latch to cross clock domains during scan shift, implementation of scan chains across power domain, optimization methods to improve timing, how standard cell libraries can aid in synthesis optimization, BKM (best known method) for RTL coding, test compression, memory BIST, usage of signed Verilog for design requiring +ve and -ve calculations, state machine, code coverage and much more. Numerous figures and examples are provided to aid the reader in understanding the issues and their workarounds.

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Dettagli

Autore:

Weng Fook Lee

Editore:

Springer Nature Switzerland AG

Anno:

2019

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

214 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9783030032371

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