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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Otwin Breitenstein,Wilhelm Warta,Martin C. Schubert - cover

LIBRO INGLESE

Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials

Name: Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Price: 205.20 EUR
Availability: InStock
Author: Otwin Breitenstein
ISBN: 3319998242

di Otwin Breitenstein (Autore)

Wilhelm Warta (Autore)

Martin C. Schubert (Autore)

Springer International Publishing AG, 2019

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Descrizione

This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.

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Dettagli

Autore:

Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C. Schubert

Editore:

Springer International Publishing AG

Collana:

Springer Series in Advanced Microelectronics

Anno:

2019

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

321 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9783319998244

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