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Metrology and Standardization for Nanotechnology

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Metrology and Standardization for Nanotechnology

Wiley-VCH, 2017

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Descrizione

For the promotion of global trading and the reduction of potential risks, the role of international standardization of nanotechnologies has become more and more important. This book gives an overview of the current status of nanotechnology including the importance of metrology and characterization at the nanoscale, international standardization of nanotechnology, and industrial innovation of nano-enabled products. First the field of nanometrology, nanomaterial standardization and nanomaterial innovation is introduced. Second, major concepts in analytical measurements are given in order to provide a basis for the reliable and reproducible characterization of nanomaterials. The role of standards organizations are presented and finally, an overview of risk management and the commercial impact of metrology and standardization for industrial innovations.

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Dettagli

Curatore:

Daisuke Fujita, Debra L. Kaiser, Elisabeth Mansfield, Marcel van de Voorde

Anno edizione:

2017

Editore:

Wiley-VCH

Formato:

EPUB3 con Adobe DRM

Lingua:

Inglese

Compatibilità:

Tutti i dispositivi (eccetto Kindle) Scopri di più

Layout:

Reflowable

EAN:

9783527800292

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