Microwave Electronics: Measurement and Materials Characterization

L. F. Chen, C. K. Ong, C.P. Neo

Anno: 2004
Rilegatura: Hardback
Pagine: 552 p.
Testo in English
Dimensioni: 255 x 198 mm
Peso: 1186 gr.
  • EAN: 9780470844922
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