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Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen: Simulation mit PSPICE - Peter Baumann - cover

LIBRO INGLESE

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen: Simulation mit PSPICE

Name: Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen: Simulation mit PSPICE
Price: 47.00 EUR
Availability: InStock
Author: Peter Baumann
ISBN: 3658438207

di Peter Baumann (Autore)

Springer Fachmedien Wiesbaden, 2024

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Descrizione

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms ORCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird ausgeführt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. In einem neuen Abschnitt werden Streuparameter-Analysen zum bipolaren HF-Transistor vorgenommen. Behandelt wird ferner die Ermittlung der Modellparameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert. Das abschließende neue Kapitel widmet sich der Parameterextraktion von multikristallinen, monokristallinen und Dünnschicht-Silizium-Solarzellen.

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Dettagli

Autore:

Peter Baumann

Editore:

Springer Fachmedien Wiesbaden

Anno:

2024

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

251 p.

Testo in German

Dimensioni:

240 x 168 mm

EAN:

9783658438203

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