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Process Variations and Probabilistic Integrated Circuit Design - cover

LIBRO INGLESE

Process Variations and Probabilistic Integrated Circuit Design

Manfred Dietrich (Curatore)

Joachim Haase (Curatore)

Springer-Verlag New York Inc., 2014

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Descrizione

Uncertainty in key parameters within a chip and between different chips in the deep sub micron area plays a more and more important role. As a result, manufacturing process spreads need to be considered during the design process. Quantitative methodology is needed to ensure faultless functionality, despite existing process variations within given bounds, during product development. This book presents the technological, physical, and mathematical fundamentals for a design paradigm shift, from a deterministic process to a probability-orientated design process for microelectronic circuits. Readers will learn to evaluate the different sources of variations in the design flow in order to establish different design variants, while applying appropriate methods and tools to evaluate and optimize their design.

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Dettagli

Curatore:

Manfred Dietrich, Joachim Haase

Editore:

Springer-Verlag New York Inc.

Anno:

2014

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

252 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9781489988607

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