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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

EBOOK IN LINGUA STRANIERA

Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

di Krishnendu Chakrabarty (Autore)

Ke Peng (Autore)

Mohammad Tehranipoor (Autore)

Springer, 2016

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Descrizione

This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.

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Dettagli

Autore:

Krishnendu Chakrabarty, Ke Peng, Mohammad Tehranipoor

Anno edizione:

2016

Editore:

Springer

Formato:

EPUB2 con Adobe DRM

Testo in en

Compatibilità:

Tutti i dispositivi (eccetto Kindle) Scopri di più

Layout:

Reflowable

EAN:

9781441982971

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