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VLSI Design and Test: 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers - cover

LIBRO INGLESE

VLSI Design and Test: 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers

Anirban Sengupta (Curatore)

Sudeb Dasgupta (Curatore)

Springer Verlag, Singapore, 2019

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Descrizione

This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.

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Dettagli

Curatore:

Anirban Sengupta, Sudeb Dasgupta

Editore:

Springer Verlag, Singapore

Collana:

Communications in Computer and Information Science

Anno:

2019

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

775 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9789813297661

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Per informazioni sulla sicurezza dei prodotti, contattare productsafetyibs@feltrinelli.it

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