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VLSI Design and Test: 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17–19, 2022, Revised Selected Papers - cover

LIBRO INGLESE

VLSI Design and Test: 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17–19, 2022, Revised Selected Papers

Ambika Prasad Shah (Curatore)

Sudeb Dasgupta (Curatore)

Springer International Publishing AG, 2022

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Descrizione

This book constitutes the proceedings of the 26th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2022, which took place in Jammu, India, in July 2022. The 32 regular papers and 16 short papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 220 submissions. They were organized in topical sections as follows: Devices and Technology; Sensors; Analog/Mixed Signal; Digital Design; Emerging Technologies and Memory; System Design.

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Dettagli

Curatore:

Ambika Prasad Shah, Sudeb Dasgupta

Editore:

Springer International Publishing AG

Collana:

Communications in Computer and Information Science

Anno:

2022

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

596 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9783031215131

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