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Acoustic Scanning Probe Microscopy - cover

LIBRO INGLESE

Acoustic Scanning Probe Microscopy

Francesco Marinello (Curatore)

Daniele Passeri (Curatore)

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, 2014

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Descrizione

The combination of atomic force microscopy with ultrasonic methods allows the nearfield detection of acoustic signals. The nondestructive characterization and nanoscale quantitative mapping of surface adhesion and stiffness or friction is possible. The aim of this book is to provide a comprehensive review of different scanning probe acoustic techniques, including AFAM, UAFM, SNFUH, UFM, SMM and torsional tapping modes. Basic theoretical explanations are given to understand not only the probe dynamics but also the dynamics of tip surface contacts. Calibration and enhancement are discussed to better define the performance of the techniques, which are also compared with other classical techniques such as nanoindentation or surface acoustic wave. Different application fields are described, including biological surfaces, polymers and thin films.

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Dettagli

Curatore:

Francesco Marinello, Daniele Passeri

Editore:

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Collana:

NanoScience and Technology

Anno:

2014

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

494 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9783642430794

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