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Applied Measurement with jMetrik - J. Patrick Meyer - cover

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Applied Measurement with jMetrik

Name: Applied Measurement with jMetrik
Price: 285.80 EUR
Availability: InStock
Author: J. Patrick Meyer
ISBN: 0415531950

di J. Patrick Meyer (Autore)

Taylor & Francis Ltd, 2014

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Descrizione

jMetrik is a computer program for implementing classical and modern psychometric methods. It is designed to facilitate work in a production environment and to make advanced psychometric procedures accessible to every measurement practitioner. Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis. Each chapter focuses on a topic in measurement, describes the steps for using jMetrik, and provides one or more examples of conducting an analysis on the topic. Recommendations and guidance for practice is provided throughout the book.

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Dettagli

Autore:

J. Patrick Meyer

Editore:

Taylor & Francis Ltd

Anno:

2014

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

170 p.

Testo in English

Dimensioni:

229 x 152 mm

Peso:

362 gr.

EAN:

9780415531955

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