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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Andrei Pavlov,Manoj Sachdev - cover

LIBRO INGLESE

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test

Name: CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test
Price: 207.70 EUR
Availability: InStock
Author: Andrei Pavlov
ISBN: 1402083629

di Andrei Pavlov (Autore)

Manoj Sachdev (Autore)

Springer-Verlag New York Inc., 2008

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Descrizione

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.

Dettagli

Autore:

Andrei Pavlov, Manoj Sachdev

Editore:

Springer-Verlag New York Inc.

Collana:

Frontiers in Electronic Testing

Anno:

2008

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

194 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9781402083624

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Per informazioni sulla sicurezza dei prodotti, contattare complianceDSA@feltrinelli.it

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