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Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications - Manuel Servin,J. Antonio Quiroga,Moises Padilla - cover

LIBRO INGLESE

Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications

Name: Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications
Price: 163.47 EUR
Availability: InStock
Author: Manuel Servin
ISBN: 3527411526

di Manuel Servin (Autore)

J. Antonio Quiroga (Autore)

Moises Padilla (Autore)

Wiley-VCH Verlag GmbH, 2014

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Descrizione

The main objective of this book is to present the basic theoretical principles and practical applications for the classical interferometric techniques and the most advanced methods in the field of modern fringe pattern analysis applied to optical metrology. A major novelty of this work is the presentation of a unified theoretical framework based on the Fourier description of phase shifting interferometry using the Frequency Transfer Function (FTF) along with the theory of Stochastic Process for the straightforward analysis and synthesis of phase shifting algorithms with desired properties such as spectral response, detuning and signal-to-noise robustness, harmonic rejection, etc.

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Dettagli

Autore:

Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, Moises Padilla

Editore:

Wiley-VCH Verlag GmbH

Anno:

2014

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

344 p.

Testo in English

Dimensioni:

251 x 175 mm

Peso:

898 gr.

EAN:

9783527411528

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