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Cryo-electron Tomography: A Journey From Sample Preparation to Data Mining - cover

LIBRO INGLESE

Cryo-electron Tomography: A Journey From Sample Preparation to Data Mining

Dorit Hanein (Curatore)

Niels Volkmann (Curatore)

Elsevier Science Publishing Co Inc, 2025

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Descrizione

Cryo-Electron Tomography: A Journey from Sample Preparation to Data Mining providing a holistic overview of this rapidly advancing field and equipping researchers with the knowledge and tools necessary to initiate their own investigations. The book begins with a section on advanced cryogenic sample preparation for in situ cellular tomography, covering a range of sample types including viruses, bacteria, eukaryotic cells, and perspectives for organoids and tissues. Specific chapters focus on essential approaches such as vitrification, sample thinning, and bimodal correlative techniques. The book then transitions to a section on data mining and validation.

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Dettagli

Curatore:

Dorit Hanein, Niels Volkmann

Editore:

Elsevier Science Publishing Co Inc

Anno:

2025

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

282 p.

Testo in English

Dimensioni:

229 x 152 mm

Peso:

450 gr.

EAN:

9780443188299

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