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EM Material Characterization Techniques for Metamaterials - Raveendranath U. Nair,Maumita Dutta,Mohammed Yazeen P.S. - cover

LIBRO INGLESE

EM Material Characterization Techniques for Metamaterials

Name: EM Material Characterization Techniques for Metamaterials
Price: 69.20 EUR
Availability: InStock
Author: Raveendranath U. Nair
ISBN: 9811065160

di Raveendranath U. Nair (Autore)

Maumita Dutta (Autore)

Mohammed Yazeen P.S. (Autore)

Springer Verlag, Singapore, 2017

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Descrizione

This book presents a review of techniques based on waveguide systems, striplines, freespace systems and more, discussing the salient features of each method in detail. Since metamaterials are typically inhomogeneous and anisotropic, the experimental techniques for electromagnetic (EM) material characterization of metamaterial structures need to tackle several challenges. Furthermore, the modes supported by metamaterial structures are extremely sensitive to external perturbations. As such the measurement fixtures for EM material characterization have to be modified to account for such effects. The book provides a valuable resource for researchers working in the field of metamaterials

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Dettagli

Autore:

Raveendranath U. Nair, Maumita Dutta, Mohammed Yazeen P.S.

Editore:

Springer Verlag, Singapore

Collana:

SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering

Anno:

2017

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

50 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9789811065163

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