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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - cover

LIBRO INGLESE

Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques

Lawrence C. Wagner (Curatore)

Chapman and Hall, 1999

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Descrizione

This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.

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Dettagli

Curatore:

Lawrence C. Wagner

Editore:

Chapman and Hall

Collana:

The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Anno:

1999

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

255 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

Peso:

1250 gr.

EAN:

9780412145612

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