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Fundamentals of Modern VLSI Devices - Yuan Taur,Tak H. Ning - cover

LIBRO INGLESE

Fundamentals of Modern VLSI Devices

Name: Fundamentals of Modern VLSI Devices
Price: 59.37 EUR
Availability: InStock
Author: Yuan Taur
ISBN: 1108480020

di Yuan Taur (Autore)

Tak H. Ning (Autore)

Cambridge University Press, 2021

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Descrizione

A thoroughly updated third edition of an classic and widely adopted text, perfect for practical transistor design and in the classroom. Covering a variety of recent developments, the internationally renowned authors discuss in detail the basic properties and designs of modern VLSI devices, as well as factors affecting performance. Containing around 25% new material, coverage has been expanded to include high-k gate dielectrics, metal gate technology, strained silicon mobility, non-GCA (Gradual Channel Approximation) modelling of MOSFETs, short-channel FinFETS, and symmetric lateral bipolar transistors on SOI. Chapters have been reorganized to integrate the appendices into the main text to enable a smoother learning experience, and numerous additional end-of-chapter homework exercises (+30%) are included to engage students with real-world problems and test their understanding. A perfect text for senior undergraduate and graduate students taking advanced semiconductor devices courses, and for practicing silicon device professionals in the semiconductor industry.

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Dettagli

Autore:

Yuan Taur, Tak H. Ning

Editore:

Cambridge University Press

Anno:

2021

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

622 p.

Testo in English

Dimensioni:

250 x 173 mm

Peso:

1330 gr.

EAN:

9781108480024

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