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High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip - Zheng Wang,Anupam Chattopadhyay - cover

LIBRO INGLESE

High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip

Name: High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Price: 131.40 EUR
Availability: InStock
Author: Zheng Wang
ISBN: 9811010722

di Zheng Wang (Autore)

Anupam Chattopadhyay (Autore)

Springer Verlag, Singapore, 2017

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Descrizione

This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors. The book presents novel techniques for high-level fault simulation and reliability estimation as well as architecture-level and system-level fault tolerant designs. It also presents a survey of state-of-the-art problems and solutions, offering insights into reliability issues in digital design and their cross-layer countermeasures.

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Dettagli

Autore:

Zheng Wang, Anupam Chattopadhyay

Editore:

Springer Verlag, Singapore

Collana:

Computer Architecture and Design Methodologies

Anno:

2017

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

197 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9789811010729

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