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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy - cover

LIBRO INGLESE

Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy

Thomas Vogt (Curatore)

Wolfgang Dahmen (Curatore)

Springer-Verlag New York Inc., 2014

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Descrizione

Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing.

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Dettagli

Curatore:

Thomas Vogt, Wolfgang Dahmen

Editore:

Springer-Verlag New York Inc.

Collana:

Nanostructure Science and Technology

Anno:

2014

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

182 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9781489997289

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