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Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 - cover

LIBRO INGLESE

Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2

Seizo Morita (Curatore)

Franz J. Giessibl (Curatore)

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, 2009

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Descrizione

Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution; tuning fork; atomic manipulation; magnetic exchange force microscopy; atomic and molecular imaging in liquids; and other new technologies. These results and technologies are now helping evolve NC-AFM toward practical tools for characterization and manipulation of individual atoms/molecules and nanostructures with atomic/subatomic resolution. Therefore, the book exemplifies how NC-AFM has become a crucial tool for the expanding fields of nanoscience and nanotechnology.

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Dettagli

Curatore:

Seizo Morita, Franz J. Giessibl

Editore:

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Collana:

NanoScience and Technology

Anno:

2009

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

401 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9783642014949

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