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Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science - cover

LIBRO INGLESE

Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science

Xiao-Feng Zhang (Curatore)

Ze Zhang (Curatore)

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, 2001

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Descrizione

Transmission electron microscopy (TEM) is now recognized as a crucial tool in materials science. This book, authored by a team of expert Chinese and international authors, covers many aspects of modern electron microscopy, from the architecture of novel electron microscopes, advanced theories and techniques in TEM and sample preparation, to a variety of hands-on examples of TEM applications. Volume II illustrates the important role that TEM is playing in the development and characterization of advanced materials, including nanostructures, interfacial structures, defects, and macromolecular complexes.

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Dettagli

Curatore:

Xiao-Feng Zhang, Ze Zhang

Editore:

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Collana:

Springer Series in Surface Sciences

Anno:

2001

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

307 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9783540676812

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