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Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications - cover

LIBRO INGLESE

Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications

Weilie Zhou (Curatore)

Zhong Lin Wang (Curatore)

Springer-Verlag New York Inc., 2010

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This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book is written by international experts from the top nano-research groups that specialize in nanomaterials characterization. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.

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Dettagli

Curatore:

Weilie Zhou, Zhong Lin Wang

Editore:

Springer-Verlag New York Inc.

Anno:

2010

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

522 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

Peso:

813 gr.

EAN:

9781441922090

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