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Thermal Conductivity Measurements in Atomically Thin Materials and Devices - T. Serkan Kasirga - cover

LIBRO INGLESE

Thermal Conductivity Measurements in Atomically Thin Materials and Devices

Name: Thermal Conductivity Measurements in Atomically Thin Materials and Devices
Price: 81.70 EUR
Availability: InStock
Author: T. Serkan Kasirga
ISBN: 9811553475

di T. Serkan Kasirga (Autore)

Springer Verlag, Singapore, 2020

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Descrizione

This book assesses the thermal feasibility of using materials with atomically thin layers such as graphene and the transition metal dichalcogenides family in electronics and optoelectronics applications. The focus is on thermal conductivity measurement techniques currently available for the investigation of thermal performance at the material and device level. In addition to providing detailed information on the available techniques, the book introduces readers to novel techniques based on photothermal effects.

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Dettagli

Autore:

T. Serkan Kasirga

Editore:

Springer Verlag, Singapore

Collana:

SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology

Anno:

2020

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

50 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9789811553479

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