Chiudi

Aggiungi l'articolo in

Chiudi
Aggiunto

L’articolo è stato aggiunto alla lista dei desideri

Chiudi

Crea nuova lista

Thermodynamic Basis of Crystal Growth: P-T-X Phase Equilibrium and Non-Stoichiometry - Jacob Greenberg - cover
Thermodynamic Basis of Crystal Growth: P-T-X Phase Equilibrium and Non-Stoichiometry - Jacob Greenberg - cover
Dati e Statistiche
Wishlist Salvato in 0 liste dei desideri
Thermodynamic Basis of Crystal Growth: P-T-X Phase Equilibrium and Non-Stoichiometry
Disponibilità in 2 settimane
137,40 €
137,40 €
Disponibilità in 2 settimane
Chiudi

Altre offerte vendute e spedite dai nostri venditori

Altri venditori
Prezzo e spese di spedizione
ibs
Spedizione Gratis
137,40 €
Vai alla scheda completa
Altri venditori
Prezzo e spese di spedizione
ibs
Spedizione Gratis
137,40 €
Vai alla scheda completa
Altri venditori
Prezzo e spese di spedizione
Chiudi
ibs
Chiudi

Tutti i formati ed edizioni

Chiudi
Thermodynamic Basis of Crystal Growth: P-T-X Phase Equilibrium and Non-Stoichiometry - Jacob Greenberg - cover
Chiudi

Promo attive (0)

Descrizione


It is particularly symptomatic that a volume concerning P-T-X phase equilibrium should appear in the Materials Science Series. Entering the 21st century, progress in modern electronics is increasingly becoming associated with devices based not only on silicon but also on chemical compounds. These include both semiconduc­ tors and, in the last 15 years, multinary oxides with high-To superconductor properties. The critical role of chemical processes in the technologies of these materials is quite evident, and in recent years has stimulated vigorous research activity in the physical chemistry of materials, resulting in a renaissance of this field. The leading role in these efforts belongs to thermodynamics, in particular, computer modeling of chemical processes, phase equilibrium, and controlled synthesis of inorganic materials with preliminary fixed stoichiometric composition. Especially important contributions have been made regarding non­ stoichiometry and our understanding of the crucial relationship between composition and properties of the materials since the development of the vapor pressure scanning approach to the phenomenon of non-stoichiometry. This method of the in situ investigation of the crystal composition directly at high temperatures 3 4 proved to be of an unparalleled precision of 10- _10 at. % and made it possible to obtain in an analytical form functional dependences of the crystal composition on temperature, pressure, and composition of the crystallizing matrix for crystals with sub-O. l at. % range of existence.
Leggi di più Leggi di meno

Dettagli

Springer Series in Materials Science
2010
Paperback / softback
251 p.
Testo in English
235 x 155 mm
9783642074523
Chiudi
Aggiunto

L'articolo è stato aggiunto al carrello

Informazioni e Contatti sulla Sicurezza dei Prodotti

Le schede prodotto sono aggiornate in conformità al Regolamento UE 988/2023. Laddove ci fossero taluni dati non disponibili per ragioni indipendenti da IBS, vi informiamo che stiamo compiendo ogni ragionevole sforzo per inserirli. Vi invitiamo a controllare periodicamente il sito www.ibs.it per eventuali novità e aggiornamenti.
Per le vendite di prodotti da terze parti, ciascun venditore si assume la piena e diretta responsabilità per la commercializzazione del prodotto e per la sua conformità al Regolamento UE 988/2023, nonché alle normative nazionali ed europee vigenti.

Per informazioni sulla sicurezza dei prodotti, contattare productsafetyibs@feltrinelli.it

Chiudi

Aggiungi l'articolo in

Chiudi
Aggiunto

L’articolo è stato aggiunto alla lista dei desideri

Chiudi

Crea nuova lista

Chiudi

Chiudi

Siamo spiacenti si è verificato un errore imprevisto, la preghiamo di riprovare.

Chiudi

Verrai avvisato via email sulle novità di Nome Autore