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Applied Scanning Probe Methods I - cover

LIBRO INGLESE

Applied Scanning Probe Methods I

Bharat Bhushan (Curatore)

Harald Fuchs (Curatore)

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, 2004

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Descrizione

This volume examines the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. After laying the theoretical background of static and dynamic force microscopies, including sensor technology and tip characterization, contributions detail applications such as macro- and nanotribology, polymer surfaces, and roughness investigations. The final part on industrial research addresses special applications of scanning force nanoprobes such as atomic manipulation and surface modification, as well as single electron devices based on SPM. Scientists and engineers either using or planning to use SPM techniques will benefit from the international perspective assembled in the book.

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Dettagli

Curatore:

Bharat Bhushan, Harald Fuchs

Editore:

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Collana:

NanoScience and Technology

Anno:

2004

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

476 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9783540005278

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