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LIBRO INGLESE

Circuit Design for Reliability

Ricardo Reis (Curatore)

Yu Cao (Curatore)

Springer-Verlag New York Inc., 2014

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Descrizione

This book presents physical understanding, modeling and simulation, on-chip characterization, layout solutions, and design techniques that are effective to enhance the reliability of various circuit units. The authors provide readers with techniques for state of the art and future technologies, ranging from technology modeling, fault detection and analysis, circuit hardening, and reliability management.

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Dettagli

Curatore:

Ricardo Reis, Yu Cao

Editore:

Springer-Verlag New York Inc.

Anno:

2014

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

272 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9781461440772

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