L’articolo è stato aggiunto alla lista dei desideri

Password

Ricordami

Hai dimenticato la password?

Prosegui come ospite

Dichiaro di aver letto ed accettato le Condizioni d’Uso del sito, Condizioni Generali di Vendita, Acquistare un prodotto come ospite, nonché l’Informativa Privacy, fornita ai sensi degli artt. 13 e 14 del Regolamento Europeo (UE) 679/2016.

Torna indietro

Verifica email È stata appena inviata una mail di verifica all’indirizzo

Questo passaggio aggiuntivo dimostra che sei tu che stai provando a proseguire come ospite.

Nome

Cognome

Password

Min. 8 caratteri ( A-Z, a-z, 0-9 e caratteri speciali . , - / @ _ ! )

Ripeti password

Verifica email L’indirizzo nome.cognome@mail.com non è presente nei nostri database come profilo ospite. Per maggiori dettagli contattare il servizio clienti

Con la presente registrazione dichiaro di aver letto ed accettato le Condizioni d’Uso del sito, le Condizioni Generali di Vendita e l’Informativa Privacy fornita ai sensi degli artt. 13 e 14 del Regolamento Europeo (UE) 679/2016.

Autorizzo il Titolare ad inviare direttamente comunicazioni commerciali su prodotti e servizi del Titolare, società del Gruppo Feltrinelli e partner commerciali, a mezzo di sistemi automatizzati via e-mail, sms o simili e a mezzo del servizio postale, così come descritto all’art. 3 lett. e) dell’informativa privacy.

Autorizzo il Titolare a migliorare ed accrescere la capacità di adeguare l’offerta complessiva del Titolare alle esigenze dell’Utente, mediante comunicazioni commerciali ed offerte promozionali personalizzate basate sulla profilazione, così come descritto all’art. 3 lett. f) dell’informativa privacy.

Autorizzo il Titolare a comunicare e cedere i dati a società del Gruppo Feltrinelli e/o a partner commerciali attivi nei settori di editoria, cinema, musica, intrattenimento, nonché ulteriori terze parti appartenenti alle categorie indicate nell’informativa, per l’invio di comunicazioni commerciali effettuate da parte di questi soggetti, così come descritto all’art. 3 lett. g) dell’informativa privacy.

Benvenuto in IBS,

Riceverai una mail di conferma all’indirizzo

Raccontaci qualcosa in più su di te

oppure

Verifica email È stata appena inviata una mail di verifica all’indirizzo

Questo passaggio aggiuntivo dimostra che sei tu che stai provando a proseguire come ospite.

;

CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - cover

LIBRO INGLESE

CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

Alexander A. Demkov (Curatore)

Bill Taylor (Curatore)

Materials Research Society, 2009

Recensioni: 0/5

(0)

Grazie per la tua recensione!

Tra poche ore la vedrai online (in caso contrario verifica la conformità del testo alle nostre linee guida). Dopo la pubblicazione per te +4 punti Effe

143,90 € +1440 punti Effe

Venditore: IBS

Articolo acquistabile con Carta del Docente

Articolo acquistabile con Carta Cultura Giovani e Carta del Merito

Articolo acquistabile con Carta della Cultura

Paga con Klarna in 3 rate senza interessi per ordini superiori a 39 €

Dati e Statistiche

Salvato in 0 liste dei desideri

CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

Disponibilità in 2 settimane

143,90 €

Disponibilità in 2 settimane

Altre offerte vendute e spedite dai nostri venditori

Libri in Inglese CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

Altri venditori

Prezzo e spese di spedizione

Nuovo

Disponibilità in 2 settimane

Venduto e spedito da IBS

Spedizione Gratis

143,90 €

Vai alla scheda completa

Altri venditori

Prezzo e spese di spedizione

Nuovo

Disponibilità in 2 settimane

Venduto e spedito da IBS

Spedizione Gratis

143,90 €

Vai alla scheda completa

Altri venditori

Prezzo e spese di spedizione

Descrizione

To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials.

Leggi di più Leggi di meno

Dettagli

Curatore:

Alexander A. Demkov, Bill Taylor

Editore:

Materials Research Society

Collana:

MRS Proceedings

Anno:

2009

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

194 p.

Testo in English

Dimensioni:

236 x 160 mm

Peso:

430 gr.

EAN:

9781605111285

Informazioni e Contatti sulla Sicurezza dei Prodotti

Le schede prodotto sono aggiornate in conformità al Regolamento UE 988/2023. Laddove ci fossero taluni dati non disponibili per ragioni indipendenti da IBS, vi informiamo che stiamo compiendo ogni ragionevole sforzo per inserirli. Vi invitiamo a controllare periodicamente il sito www.ibs.it per eventuali novità e aggiornamenti.
Per le vendite di prodotti da terze parti, ciascun venditore si assume la piena e diretta responsabilità per la commercializzazione del prodotto e per la sua conformità al Regolamento UE 988/2023, nonché alle normative nazionali ed europee vigenti.

Per informazioni sulla sicurezza dei prodotti, contattare productsafetyibs@feltrinelli.it

L’articolo è stato aggiunto alla lista dei desideri