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Critical Phenomena at Surfaces and Interfaces: Evanescent X-Ray and Neutron Scattering - Helmut Dosch - cover

LIBRO INGLESE

Critical Phenomena at Surfaces and Interfaces: Evanescent X-Ray and Neutron Scattering

Name: Critical Phenomena at Surfaces and Interfaces: Evanescent X-Ray and Neutron Scattering
Price: 69.20 EUR
Availability: InStock
Author: Helmut Dosch
ISBN: 3662149753

di Helmut Dosch (Autore)

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, 2013

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Descrizione

This book deals with the application of grazing angle x-ray and neutron scattering to the study of surface-induced critical phenomena. With the advent of even more advanced synchrotron radiation sources and new sophisticated instrumentation this novel technique is expected to experience a boom. The comprehensive and detailed presentation of theoretical and experimental aspects of the scattering of evanascent x-ray and neutron waves inside a solid makes this book particularly useful for tutorial courses. Particular emphasis is put on the use of this technique to extract microscopic information (correlation functions) from the real structure of a surface, from buried and magnetic interfaces and from surface roughness.

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Dettagli

Autore:

Helmut Dosch

Editore:

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Collana:

Springer Tracts in Modern Physics

Anno:

2013

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

149 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9783662149751

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