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High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test - R. Dean Adams - cover

LIBRO INGLESE

High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test

Name: High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
Price: 212.30 EUR
Availability: InStock
Author: R. Dean Adams
ISBN: 1475784740

di R. Dean Adams (Autore)

Springer-Verlag New York Inc., 2013

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Descrizione

Are memory applications more critical than they have been in the past? Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested.

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Dettagli

Autore:

R. Dean Adams

Editore:

Springer-Verlag New York Inc.

Collana:

Frontiers in Electronic Testing

Anno:

2013

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

250 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9781475784749

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