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$High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography - D.K. Bowen,Brian K. Tanner - cover$

LIBRO INGLESE

High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Name: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Price: 115.40 EUR
Availability: InStock
Author: D.K. Bowen
ISBN: 0367400634

di D.K. Bowen (Autore)

Brian K. Tanner (Autore)

Taylor & Francis Ltd, 2019

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Descrizione

The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated and reliable techniques for examining and characterizing these materials. This comprehensive book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research, development, and production. It provides the theoretical and practical background for applying these techniques in scientific and industrial materials characterization. The main aim of the book is to map the theoretical and practical background necessary to the study of single crystal materials by means of high-resolution x-ray diffraction and topography. It combines mathematical formalisms with graphical explanations and hands-on practical advice for interpreting data.

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Dettagli

Autore:

D.K. Bowen, Brian K. Tanner

Editore:

Taylor & Francis Ltd

Anno:

2019

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

264 p.

Testo in English

Dimensioni:

246 x 174 mm

Peso:

453 gr.

EAN:

9780367400637

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