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Noncontact Atomic Force Microscopy - cover

LIBRO INGLESE

Noncontact Atomic Force Microscopy

S. Morita (Curatore)

Roland Wiesendanger (Curatore)

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, 2012

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Descrizione

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.

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Dettagli

Curatore:

S. Morita, Roland Wiesendanger

Editore:

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Collana:

NanoScience and Technology

Anno:

2012

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

440 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9783642627729

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